ICS 03.220.20 R 85 备案号： JT 中华人民共和国交通运输行业标准
JT/T 452—2019
代替 JT/T 452.1—2001 和 JT/T 452.2—2004
公路收费非接触式 IC 卡技术条件¶
Technical specifications for contactless IC card of highway toll
2019-03-15 发布
2019-07-01 实施
中华人民共和国交通运输部 发 布
目次¶
前言 …… Ⅱ 1 范围 …… 1 2 规范性引用文件 …… 1 3 术语和定义 …… 1 4 技术要求 …… 2 5 试验方法 …… 4
前言¶
本标准按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替 JT/T 452.1—2001《公路收费非接触式 IC 卡 第 1 部分: 物理特性》和 JT/T 452.2—2004《公路收费非接触式 IC 卡技术条件 第 2 部分: 电气特性》。本标准整合了 JT/T 452.1—2001 和 JT/T 452.2—2004 的大部分内容, 除编辑性修改外主要技术变化如下:
——修改了温、湿度条件下卡尺寸的稳定性(见4.1.3.4, JT/T 452.1—2001的4.4.5);
——修改了黏结或结块(见4.1.3.6, JT/T 452.1—2001的4.4.7);
——增加了抗热性(见4.1.3.9);
——增加了污染(见4.1.3.10);
——修改了紫外线(见4.1.3.11, JT/T 452.1—2001的4.5.1);
——修改了工作温度(见4.1.3.18, JT/T 452.1—2001的4.5.8);
——删除了卡表面耐磨性(见 JT/T 452.1—2001 的 4.4.10);
——删除了表面畸变(见 JT/T 452.1—2001 的 4.5.3);
——删除了交变电场(见 JT/T 452.1—2001 的 4.5.11)。
本标准由全国交通工程设施(公路)标准化技术委员会(SAC/TC223)提出并归口。
本标准起草单位:交通运输部公路科学研究院、中路高科交通检测检验认证有限公司、国家交通安全设施质量监督检验中心。
本标准主要起草人: 储诚赞、王爽、李鑫、孙岳、崔晗晶、张萌、李洪蓉、张帆、李伟、燕凌、张子玉、汪成、那然。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为：
—JT/T 452.1—2001。
—JT/T 452.2—2004。
公路收费非接触式 IC 卡技术条件
1 范围¶
本标准规定了公路收费非接触式 IC 卡的技术要求、试验方法。
本标准适用于公路收费用非接触式通行卡的生产和使用。其他用途的非接触式 IC 卡可参照使用。
2 规范性引用文件¶
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 14916—2006 识别卡 物理特性
GB/T 17554.1—2006 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试
GB/T 31440—2015 封闭式收费用非接触式 IC 卡收发卡机
ISO/IEC 10373—6 识别卡 测试方法 第6部分:接近式卡(Identification cards—Test methods—Part 6:Proximity cards)
ISO/IEC 14443.1 识别卡 非接触式 IC 卡 接近式卡 第 1 部分: 物理特性 (Identification cards—Contactless integrated circuit cards—Proximity cards—Part 1: Physical characteristics)
ISO/IEC 14443.2 识别卡 非接触式 IC 卡 接近式卡第 2 部分: 射频功率和信号接口 (Identification cards—Contactless integrated circuit cards—Proximity cards—Part 2: Radio frequency power and signal interface)
ISO/IEC 14443.3 识别卡 非接触式 IC 卡 接近式卡 第 3 部分: 初始化和防冲突 (Identification cards—Contactless integrated circuit cards—Proximity cards—Part 3: Initialization and anticollision)
ISO/IEC 14443.4 识别卡 非接触式 IC 卡 接近式卡 第 4 部分:传输协议(Identification cards—Contactless integrated circuit cards—Proximity cards—Part 4:Transmission protocol)
3 术语和定义¶
GB/T 31440 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1 非接触式 contactless¶
不使用电极即可实现信号交换和能量供应。
3.2 非接触式 IC 卡 contactless IC card¶
以封装在塑料卡基内的集成电路芯片为信息载体，以无线通信方式进行信息读写的 IC 卡。
注:改写 GB/T 31440—2015,定义 3.1。
4 技术要求¶
4.1 物理特性¶
4.1.1 尺寸在默认试验环境(温度: \(23^{\circ}C \pm 3^{\circ}C\) , 相对湿度: \(40\\% \sim 60\\%\) )下, 非接触式 IC 卡(以下简称“卡”)的规格尺寸应满足图 1 中的规格要求。¶
卡表面的边缘毛刺不应超过卡表面 0.08mm。
图1 卡的尺寸
说明：
a——卡长,范围为85.47mm\~85.72mm;
b——卡宽,范围为53.92mm\~54.03mm;
c——卡的圆角半径,范围为2.88mm\~3.48mm;
d——卡厚,范围为0.68mm\~0.84mm。
4.1.2 构造卡可以由整体材料、层叠材料或胶合材料制成，表面光滑，卡表面文字和图像印刷清晰、完整。¶
4.1.3 特性¶
4.1.3.1 弯曲韧性在正常使用条件下,卡的变形应不影响卡的功能。按 GB/T 17554.1—2006 中 5.7 规定的测试方法测试结束后,卡产生的最大变形为 35mm,最小变形为 13mm。在消除荷载的 1min 内,卡应能恢复到初始平面状态,变形量在 1.5mm 内。
4.1.3.2 有毒性 卡在正常使用过程中不应存在毒性危害。
4.1.3.3 耐化学性 分别在 GB/T 17554.1—2006 中 5.4 规定的短期污染测试溶液和长期污染测试溶液中浸泡 1min 和 24h 后，卡应满足 4.1.1 中的规格尺寸要求和 4.1.3.8 中的翘曲要求。
4.1.3.4 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性在温度范围为 \(-35^{\circ}C \sim 50^{\circ}C\) 、相对湿度范围为 \(5\\% \sim 95\\%\) 的环境中暴露 24h,卡应满足 4.1.1 中的规格尺寸要求和 4.1.3.8 中的翘曲要求。
4.1.3.5 剥离强度 卡结构的各层材料应粘贴在一起,各层材料间应具有 0.35N/mm 的最小剥离强度。如果在测试期间由于黏合强度大于材料层本身强度而使层被撕破,则自动判定为满足要求。
4.1.3.6 黏结或结块 当卡被堆积在一起时,应易于用手分开卡,不应出现下列现象:
a）分层；
b) 褪色或色彩转移；
c) 表面光洁度变化;
d) 卡间物质转移;
e) 变形。
4.1.3.7 不透光性 应满足 GB/T 14916—2006 中 8.10 规定的要求。
4.1.3.8 卡翘曲 卡放置于表面粗糙度小于 \(3.2\mu \mathrm{m}\) 的均匀水平刚性平台上，从水平面到卡表面任何部位的最大距离应不大于 \(1.5\mathrm{mm}\) （包含卡的厚度在内）。
4.1.3.9 抗热性 在温度 \(50^{\circ}C \pm 1^{\circ}C\) 、相对湿度小于 60% 条件下暴露 4h 后，卡尺寸偏差不应大于 10mm，不分层或褪色。
4.1.3.10 污染 卡材料和附加到卡上的任何材料不应污染卡处理和读写卡的设备,卡材料不应包含在正常使用过程中可能会移动和改变卡其他部件的成分。
4.1.3.11 紫外线 卡的任何一面暴露在波长为 254nm 的单色光下, 累积能量达到 \(0.15 \, Ws/mm^{2}\) 时, 卡应能正常工作。
4.1.3.12 X射线 卡的任何一面暴露于 \(70\mathrm{keV}\sim 140\mathrm{keV}\) 范围内的X射线辐射中，累积辐射能量达 \(0.1\mathrm{Gy}\) 时，卡应无故障。
4.1.3.13 动态弯曲特性按 GB/T 17554.1—2006 规定的测试方法(长边和短边的最大偏移 \(hwA = 20mm, hwB = 10mm\) ) 进行 1000 次弯曲循环测试后，卡应能正常工作，并不出现开裂。 4.1.3.14 动态扭曲特性按 GB/T 17554.1—2006 规定的测试方法(旋转角度为 \(15^{\circ}\) ) 进行 1000 次扭曲循环测试后, 卡应能正常工作, 并不出现开裂。 4.1.3.15 交变磁场 卡暴露于平均场强有效值为 10A/m、频率为 13.56MHz 的磁场中，应能正常工作，暴露平均时间为 30s，最大磁场强度有效值应不大于 12A/m。
4.1.3.16 抗静电 按 ISO/IEC10373—6 规定的测试方法(测试电压为 6kV)测试后,卡应能正常工作。
4.1.3.17 静磁场 卡暴露于场强为 \(640 \, kA/m\) 的静态磁场中，应能正常工作。
4.1.3.18 工作温度 卡在 \(-40^{\circ}C \sim 85^{\circ}C\) 的环境温度范围内, 应能正常工作。
4.2 射频功率和信号接口¶
4.2.1 能量传递¶
4.2.1.1 频率 射频工作场频率应为 13.56 MHz±7 kHz。
4.2.1.2 工作场 卡应能在最小未调制工作场 \(H_{min}\) 和最大未调制工作场 \(H_{max}\) 之间持续工作，其中 \(H_{min}\) 值为 1.5A/m (rms)，\(H_{max}\) 值为 7.5A/m (rms)。
4.2.2 信号接口 卡信号接口应满足 ISO/IEC 14443.2 中 Type A 型卡有关技术要求。¶
4.3 初始化和防冲突 卡初始化和防冲突应满足 ISO/IEC 14443.3 中 Type A 型卡有关技术要求。¶
4.4 传输协议¶
4.4.1 激活协议 卡激活协议应满足 ISO/IEC 14443.4 中 Type A 型卡有关技术要求。¶
4.4.2 半双工传输协议 卡半双工传输协议应满足 ISO/IEC 14443.4 中有关技术要求。¶
4.4.3 停用协议 卡停用协议应满足 ISO/IEC 14443.4 中有关技术要求。¶
5 试验方法¶
5.1 试验条件 试验条件应满足如下要求：¶
a) 环境温度: \(23^{\circ} \mathrm{C} \pm 3^{\circ} \mathrm{C}\) ;
b) 相对湿度:40% \~ 60%;
c） 待测试卡测试前放置 24h。
5.2 物理特性试验¶
5.2.1 尺寸¶
5.2.1.1 卡厚测量按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.1.2 卡长和卡宽测量将卡置于表面粗糙度小于 \(3.2 \mu m\) 的均匀水平刚性平台上，在卡表面施加 \(2.2 N \pm 0.2 N\) 的力，用精度为 \(2.5 \mu m\) 的量具测量卡的长度和宽度。
5.2.2 构造用目测法和手感法评定。¶
5.2.3 特性¶
5.2.3.1 弯曲韧性按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.2 耐化学性 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.3 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。 5.2.3.4 剥离强度 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.5 黏结或结块 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.6 不透光性 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.7 卡翘曲 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.8 抗热性 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.9 紫外线 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.10 X 射线 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.11 动态弯曲特性按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。 5.2.3.12 动态扭曲特性按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。 5.2.3.13 交变磁场 按 ISO/IEC 10373—6 规定的试验方法进行。
5.2.3.14 抗静电 按 ISO/IEC 10373—6 规定的试验方法进行。
5.2.3.15 静磁场 按 GB/T 17554.1 规定的试验方法进行。
5.2.3.16 工作温度 将卡分别在 \(-40^{\circ}C\) 和 \(85^{\circ}C\) 试验条件下放置 16h, 每间隔 2h 验证确认, 卡应能正常工作。
5.3 射频功率和信号接口试验¶
5.3.1 能量传递¶
5.3.1.1 频率
将卡分别在射频工作场频率为 13.56 MHz-7 kHz、13.56 MHz 和 13.56 MHz+7 kHz 的环境下验证确认，卡应能正常工作。
5.3.1.2 工作场 按 ISO/IEC 10373—6 规定的卡片接收测试方法进行。